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Profilm 3D光学轮廓仪
Profilm3D 光学轮廓仪 低成本 – 高精度Filmetrics让3D光学轮廓测量的价格变得更加能够接受。Profilm3D使用先进的垂直干涉扫描(WLI)与高精度的相位干涉(PSI)技术
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瑞士梅特勒托利多InPro2000 / InPro2000i
InPro2000 是经典 465-50 可重添液态电解质的 pH-电极,配有内置温度传感器和 VP 连接器。 技术参数: 规格 - InPro2000
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3D 光学干涉轮廓仪
NanoX-2000/3000 系列3D 光学干涉轮廓仪建立在移相干涉测量(PSI)、白光垂直扫描干涉测量(VSI)和单色光垂直扫描干涉测量(CSI)等技术的基础上,以其纳米级测量准确度和重复性
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光学型轮廓仪
SJ5900粗糙度轮廓仪一体机专业为非球面镜片的大曲面测试,该仪器可以对零件表面,尤其是大范围曲面,如圆弧面和球面、异型曲面等进行检测.
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纳米表面轮廓仪
纳米表面轮廓仪 纳米表面轮廓仪IMOS纳米表面轮廓仪实现了精确、定量、iso兼容、非接触式表面测量和表征微和纳米尺度的表面特征,在短短几秒钟内可捕获多达200万
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激光扫描轮廓仪
技术参数: 技术参数 Scan modules Measuring range in x,y-direction [mm] Resolution in x
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STD2000分立器件参数测试仪系统
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天士立 分立器件静态参数测试系统 STD2000
测试对象:DIODE、MOSFET、IGBT、JFET、SCR、TRIAC、OPTO等25类半导体分立器件 测试项目:导通参数,截止参数,传输参数等,几乎涵盖所有静态参数 输出能力:电压MAX
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雪迪龙MODEL 2000五参数水质在线自动监测仪
采用进口传感器探头,响应速度快、操作便捷并具有良好的准确度、可靠性,能够长期无人值守地自动监测各种水体中的温度、pH、电导率、浊度和溶解氧。
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STD2000半导体分立器件静态参数测试仪系统
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